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0769-88030227
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設(shè)備：臺(tái)階儀Dektak XT
廠商：美國(guó)Bruke
用途：通過(guò)該測(cè)試，可以得到探針移動(dòng)路徑上樣品的表面起伏數(shù)據(jù)，從而分析出樣品的表面粗糙度、翹曲程度等信息。
技術(shù)指標(biāo)：
l 掃描長(zhǎng)度： 50μm-55mm
l 垂直測(cè)量范圍： 1mm
l 臺(tái)階高度重現(xiàn)性5?, 1σ 在1μm臺(tái)階上
l 垂直分辨率：最大1?（6.5μm范圍）
l 探針曲率半徑：0.2 um ，2um
樣品臺(tái)尺寸：4英寸，6英寸，8英寸
地址：廣東省東莞市松山湖國(guó)家高新區(qū)總部一號(hào)12棟5樓
電話：0769-33882377
郵箱：nfjc@cwbg-nf.com
傳真：0769-23078230